Opt.
7-13をそのまま用いてよいかどうかは必ずしも自明ではない。屈折率は波長に依存するため，屈いくと，最初分散がよくなり，細かい粒子が増加する。その後ある点に達すると，分散エネルギーを大き[13] TWOMEY S. On the numerical solution of Fredholm integral equations of the first kind by the inversion of theに大きな偏りを与えることがある。この偏りは，粒子径分布下限近くの粒子径区間の粒子量として不適切子の濃度に支配されるので，どのような分布においても，存在する粒子の最小サイズを考慮して，適切な3) 試料の前処理を行う場合（例えば，ふるい分け前処理）には，その方法及び条件モデルマトリックスとの積で表される。しかしながら，実際の測定では，この問題の逆演算が必要になる。[14] PIKE, E.R., MCWHIRTER, J.G., BERTERO, M., DE MOL, C. Generalised information theory for inverseその系を代表する適量の試料を準備する。縮分の方法についてはJIS Z 8833に従うことが望ましい。子群からの光散乱パターンは，個々の単一粒子からの散乱パターンの総和と等しい。理論的に計算した，検出器に検出される信号を示している。一方，最初の列 (M11 ... Mm1) は，第1の粒子径区間の粒子がm個率の虚数部（約0.01i〜0.03i）が必要となる（屈折率については，箇条5の注記3に参考記載がある。）。散乱光パターンの特徴を考慮すると，広範囲の角度の散乱光強度を検出することが重要であり，かなり注記 対応国際規格：ISO 14488，Particulate materials−Sampling and sample splitting for the接した粒子によって更に散乱される現象（多重散乱）の効果が無視できない。正確な粒子径分布の決定に系統的測定誤差（偏り）は，次の要因によって発生する可能性がある。図A.3−フラウンホーファ回折近似及びミー理論に基づく透過粒子の散乱パターンの比較いる。例えば，国家計量標準機関に対してトレーサブルな粒子である。これによって，装置が分析プラッ注記 この種の繰返し精度は，サンプリング及び分散による変動を含む。算された粒子濃度とを比較することで，選択した光学モデル及び屈折率の値が適切であることを確認回折・散乱法にとって適切であると明示されていれば，非球形粒子を含む標準物質も使用することが可能粒子濃度が高い場合には，多重散乱，すなわち，個々の粒子によって散乱した光が，隣接した粒子によこの種の誤差は，粒子径分布が広く流動性のよい物質の，大量の試料を不適切なサンプル分割法によ注記3 ISO 13320:2009では光透過（transmission）を用語として挙げているが，この規格では透過率化も波長に依存する。散乱光の偏光の差を，波長450 nm及び633 nmの二つの場合について，図A.9に示c) 分散中の機械的作用力による粒子の粉砕（例えば，湿式測定中の超音波照射，又は過剰な差圧，及び次に掲げる規格は，この規格に引用されることによって，この規格の規定の一部を構成する。これらの[30] 早川 修，中平 兼司，椿 淳一郎，レーザー回折・散乱法における最適屈折率の推定法，粉体工学会誌，出器の信号器の散乱光強度を見て，検出器が適正にレンズ焦点面上の中心に位置していることを確認は，測定セル中の流れの状態によって特定の方向に配向する傾向がある。乱流の条件であっても，粒子の大粒子と同等の体積になるには，非常に多くの個数の小粒子が必要となる点に注意する必要がある。によって敏感に移動するので，分布のある試料ではこれらのある種のスムージングが生じている。粒子径サブミクロン粒子の場合，散乱光の水平及び垂直方向の偏光は粒子径によって大きく変化する。この変レーザ回折・散乱法による粒子径分布測定は，粒子による光散乱の角度分布（散乱パターン）が粒子径ミー理論及びフラウンホーファ回折近似が一致することを示している。粒子径が2〜50 μmにおいては，例えば，分散液の蒸発又は外部の熱源による温度変化で，分散液又は気体の屈折率が変わってしまうく結果は通常とてもよく一致する。2〜50 μmの粒子に対して，二つのモデルの一致の程度は，複素屈折率レーザ回折・散乱法は，粒子の特性を理想化してはいるが，基本的には第一原理に基づく測定法である少ない清潔な環境に設置することが望ましい。作業場所では，健康，及び安全に関する規則（要求事項）のS1(θ) 及びS2(θ) を示した。このミー理論は，全ての大きさの球に有効な厳密解を与える（参照文献[6-8]）。見かけ上のnIpの値を使用したことを，測定報告書に明確に記載しておく。法の選択は，測定される粒子の粒子径範囲，光学特性，及び応用に依存する（附属書A参照）。散乱行列注記 対応国際規格では，分散媒体の屈折率は，光学モデルによらず記録することを要求してい差から，減衰率又は透過率が求められ，それは散乱光及び粒子濃度の指標となる。レーザ回折・散乱法では，粒子径及び粒子数を測定するために，粒子によって光がどのように散乱した図A.2 a) に透明粒子，図A.2 b) に光吸収のある不透明粒子に対する消散係数をミー理論によって計算単一粒子において粒子径0.1 μm及び粒子径100 μmの粒子の散乱光強度のダイナミックレンジ（強度比）a) 不適切なサンプリング法を用いた結果，測定領域へ系を代表しない試料が送り込まれることとなる。こうしたことは，得られた粒子径分布についての理解及び解釈のためには，粒子径計測を行う各施設に4.1) 各粒子はそれぞれ独立に光散乱する。これは多重散乱はほとんどない条件が満たされているといd) 隣接する粒子径区間の間における散乱パターンの検出可能な差異ド，及び／又はピクセルアレイ形検出器が用いられる。加えて，光軸中心に検出器を設置して非散乱光の粒子径分布の幅（width of size distribution）[23] 化学大辞典編集委員会 編，化学大辞典，共立出版，東京，1964単一球形粒子による散乱光は，次の条件が満たされれば，粒子群に対しても拡張できる。図A.9−散乱光の偏光の差［a) 波長450 nm及びb) 633 nmの場合の比較］for laser diffraction instruments. Academic Press, San Diego, CA, 1998.えると証明されている方法を使用するとしても，相応の注意を払う必要がある（JIS Z 8833参照）。る。したがって，レーザ回折・散乱装置は体積基準の粒子径分布を評価するように設計されている。図A.5の計算・保存及び粒子径分布計算（逆演算）を行う。コンピュータを用いて自動計測を行わせることもでこの規格が適用可能な粒子径範囲は，およそ0.1 μm〜3 mm程度である。特別な機器及び条件の場合にって分割した場合に，特に顕著になる。装置内において，粒子の大きさによる選択的な輸送によって図A.6−最適に配置した検出器の光電流パターン（体積基準。ミー理論に基づく）める。最終的な信号はバックグラウンド信号を差し引いて計算されることもある。データはコンピュータンズの焦点距離とともに検出器の座標（大きさ及び位置）で各素子の測定散乱角範囲が決まる。一般に，図A.11−粒子径分布の幅の小さい試料におけるレーザ回折・散乱測定装置の球形粒子の分布の幅としてx90 / x10の値が少なくとも1.5であるような既知の粒子径分布を構成しているこ 1991, 30, pp. レーザー式の場合、屈折率をどのように決めたらよいかわからない場合があります。特に虚数項が屈折率に加わる場合、虚数項の決め方が良くわからない場合があります。レーザー式で使用される屈折率は装置常数であり、実測値や文献値ではありません。